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锁斌，男，博士、副研究员，中国工程物理研究院武器电子学系统可靠性专业组组长、贮存寿命预测学术带头人，中国电子学会可靠性分会委员、中国现场统计学会可靠性分会理事、四川省电子学会电子产品可靠性与质量管理专委会秘书长、中国电子学会高级会员，长期从事贮存寿命预测、加速寿命试验、可靠性设计分析、不确定性量化等基础理论研究与工程化应用，担任多个型号可靠性主任设计师，先后承担国防预研重大/重点项目、国家自然科学基金、总装/装发部技术基础项目、国防科工局技术基础项目、装发部跨行业预研项目等国家级军工项目及各类基金项目十余项，发表学术论文四十余篇，出版学术专著2部。