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个人简介：Personal Profile 游海龙（Hailong You）教授（华山学者），博士生导师西电EDA研究院副院长西安市系统芯片与微系统重点实验室副主任西电-海思EDA技术委员会主任西安电子科技大学  微电子学院 华山领军教授游海龙，湖北阳新人，博士，教授，博士生导师；兼聘西电管理科学与工程学科研究生导师，现任西电-国微EDA研究院副院长，西安市系统芯片与微系统重点实验室副主任，西电-海思EDA技术委员会主任。于2002年6月，2006.12月毕业于西安电子科技大学光电子技术、微电子与固体电子学专业，分别获学士、博士学位；于2010.9-2011.9月在美国佐治亚理工学院（Georgia institute of  technology）从事博士后研究。 目前主要研究方向为集成电路可靠性与设计自动化，长期从事半导体制造过程控制、集成电路可靠性设计等关键技术研究。2007年至今，主持包括国家自然科学基金、科技部专项等省部级课题三十余项。在IEEE Trans. SEMI MANUFACTURING,  ASP-DAC, Microelectronics Reliability, Chinese Physics B, Chinese journal of electronics , JEDS, TODAES, Integration 等国内外学术期刊与会议上发表论文60余篇，其中被SCI、EI、ISTP检索二十余篇；出版三部专著和教材，获专利授权10余项。         游海龙教授至今主讲的本科生课程包括《半导体器件物理I》（获评国家级一流课程）、研究生课程《Spice电路模拟与仿真》、《微电路质量可靠性保证、评价与失效分析》。         相关动态《半导体器件物理I》课程入选第二批国家级一流课程2023.04Machine Learning Based Framework for Fast Resource Estimation of RTL Designs Targeting FPGAs 在 ACM Transactions on Design Automation of Electronic Systems 期刊发表 2022.12 新突破 西电学子问鼎ISPD国际集成电路物理设计竞赛冠军 2022.04High quality hypergraph partitioning for logic emulation在 Integration 期刊发表 2022.03西电国微EDA研究院案例获2020中国高等教育博览会“校企合作 双百计划”典型案例 2021.052021年集成电路设计自动化国际学术研讨会召开 2021.03西电学子获2020集成电路EDA设计精英挑战赛最高奖 2020.12西电学子获ISPD国际集成电路物理设计竞赛亚军 2020.06Reliability hazard characterization of wafer-level spatial metrology parameters based on LOF-KNN method在 Microelectronics Reliability 期刊发表 2020.022020年先进集成电路设计自动化国际研讨会举办 2020.01Statistical Process Control for Monitoring the Particles With Excess Zero Counts in Semiconductor Manufacturing在 IEEE TRANSACTIONS ON SEMICONDUCTOR MANUFACTURING 期刊发表 2019.02  招生信息  硕士招生专业：微电子学与固体电子学、集成电路工程（专业）、集成电路科学与工程  博士招生专业：集成电路科学与工程（140100）  每年计划招收1-2名博士研究生和7名左右硕士研究生，男女生不限，欢迎优秀学子报考博士/硕士研究生、优研计划和免试研究生！！  希望进入本组的同学具有良好的数学、英语基础，英语四、六级成绩优异者予以优先考虑；具备一定的电路设计与原理知识，具有一定的算法、机器学习知识者，具有EDA软件使用经验者；相关竞赛成绩优异者予以优先考虑。 拟报考和申请推免的学生，请准备一份个人简历发送邮箱：hlyou@mail.xidian.edu.cn。,团队成员Research Group EDA研究团队 微电子学院EDA团队针对集成电路设计自动化技术与EDA系统研发方向开展研究，重点研究数字集成电路物理设计布局布线方法、先进物理设计算法和基于机器学习的建模方法、面向云平台大规模硬件仿真的芯片划分技术与软件系统、器件建模与TCAD仿真、集成电路设计的可信技术与IP设计验证等EDA关键技术。在EDA的硬件仿真提出面向IC的超图划分算法框架和算法，实现高质量百亿级规模电路划分，成果发表在EDA知名国际期刊TODAES（2022）, Integration（2022），申请专利2项、软著1项，应用于我国自主EDA领先企业；提出了面向DTCO的可靠性设计方法，提升了可靠性仿真效率与精度，在产业界得到应用，成果发表在IEEE Semi M，Microelectronics Reliability等。在EDA学术竞赛中，团队取得2022 ISPD国际竞赛全球冠军（中国大陆16年首次），国家EDA精英挑战赛最高奖麒麟杯，以及2021ICCAD全球前三等50余项获奖。 李聪 史江义 祁仲冬 李康 刘伟峰