21039杨万渝
姓名 | 21039杨万渝 |
性别 | 男 |
学校 | 电子科技大学 |
部门 | 发明专利包写包过 加急申请 |
学位 | 工学硕士学位,学院列表 01 信息与通信工程学院 02 |
学历 | 版权登记666包过 代写全部资料 |
职称 | 软件著作权666包写包过 |
联系方式 | 【发送到邮箱】 |
邮箱 | 【发送到邮箱】 |
人气 | |
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自动化工程学院 导师代码: 21039 导师姓名: 杨万渝 性 别: 男 特 称: 职 称: 高级工程师 学 位: 工学硕士学位 属 性: 专职 电子邮件: yangwanyu@uestc.edu.cn 学术经历: 2005.09-2008.7 电子科技大学,硕士; 2019.01-2023.04 电子科技大学,工程师; 2023.05 - 至今 电子科技大学,高级工程师 个人简介: 围绕集成电路测试的需求,开展高速数字测试、存储器测试技术和设备的相关技术研究。针对集成电路测试中高速测试向量自动合成、多通道同步等要求,进行大量创新性研究和应用。针对储存器测试时间长的问题,从测试背景图形、故障定位、测试覆盖率等方面进行优化,降低测试成本的研究。以第一作者发表高水平论文10余篇;授权发明专利10多项。参与了包括科技部国家重点研发计划-重大科学仪器设备开发项目“集成电路综合测试仪”在内的多个国家级重大重点项目,相关成果经专家鉴定达到国内领先、国际主流水平。主持/参与完成了4项中央军委测试仪器****重大工程项目“xxx工程”中测试仪器项目的研制。目前主持中央军委重点专项“智能测试XX研究”中“时域XXXX智能测试技术”课题中的“测试仪”子课题。主持国家级项目2项;作为核心人员承担国家级项目7项(其中重大重点项目4项)。针对集成电路测试中测试向量速率以及多通道同步要求,进行大量创新性研究和应用,相关成果达国内领先、国际主流水平。与华为、成都泰格微波等公司合作,进行SIP、DDR集成电路测试系统开发,将相关成果进行应用推广。 科研项目: 研究成果: 专业研究方向: 专业名称 研究方向 招生类别 080400仪器科学与技术 01宽带时域测试技术及仪器,02电子系统综合测试诊断与预测,04集成电路测试与可测性设计理论及技术 硕士学术学位 085400电子信息 01测控技术及自动化(非全) 硕士专业学位 085407仪器仪表工程 01宽带时域测试技术及仪器,02电子系统综合测试诊断与预测,04集成电路测试与可测性设计理论及技术 硕士专业学位 |