Jun Liu教师主页

个人简介  刘军，博士学位，副教授，硕士生导师。 2011年博士毕业于中国科学院计算技术研究所，2015-2016年美国德州大学奥斯汀分校访问学主要研究方向为嵌入式系统、基于机器学习的故障测试和机器学习加速等软件、硬件结合方面的研究工作。近年来主持或参加国家自然科学基金、安徽省自然科学基金、973、863等项目。此外，还承担过HW公司(保密项目)、中国科学技术交流中心、之江实验室等横向项目。 研究生毕业后可以选择互联网公司，也可以选择半导体等硬件公司。近几年研究生毕业去向为美团、蚂蚁金服、华为海思、晶辰半导体、灿芯、新华三、邮政储蓄（软件开发）等单位，欢迎大家报考我的研究生！  联系方式： liujun@hfut.edu.cn   祝贺硕士生程松仁的论文被TVLSI(IEEE Transactions on Very Large Scale Integration Systems)录用！ 祝贺硕士生陈志的论文被TCASII(IEEE Transactions on Circuits and Systems II: Express Briefs)录用！ 发表的部分论文： [1]   刘军,吴玺,裴颂伟,王伟,陈田.基于跨度和虚拟层的三维芯核测试外壳扫描链优化方法.电子学报,2015,43(03):454-459. [2]   刘军,钱庆庆,吴玺,王伟,陈田,任福继. 三维IP核绑定前后总测试时间的优化方法.计算机工程与应用,2016,52(22):44-48. [3]   王伟,李欣,陈田,刘军,方芳,吴玺.基于扫描链平衡的3D SoC测试优化方法.电子测量与仪器学报,2012,26(07):586-590. [4]   刘军,吴玺,梁华国,任福继.三维扫描树叶子节点和TSVs数量的优化方法.中国科学:信息科学,2014,44(10):1203-1215. [5]   刘军,朱承强,吴玺,王伟,任福继.相邻层冗余共享的三维存储器成品率优化方法.电子学报,2018,46(03):629-635. [6]   刘军,王堂亚,任福继.故障芯片重利用的三维存储器成品率提高方法.微电子学与计算机,2016,33(10):7-12. [7]   王秀云,刘军,任福继.TSVs串扰故障分组测试和诊断策略[J].微电子学与计算机,2020,37(02):30-36. [8]   刘军,董鹏,任福继.基于对角线的硅通孔容错设计.微电子学与计算机,2018,35(11):73-78. [9]   S .Pei , J.Zhang, Y. Jin, S.Jin, J.Liu. An Effective TSV Self-Repair Scheme for 3D-Stacked ICs. In Proceedings of ACM Great lakes symposium on  VLSI(GLVLSI)， 2015:21-26. [10]  王伟,张欢,方芳,陈田,刘军,李欣,邹毅文.2TF:一种协同考虑过硅通孔和热量的三维芯片布图规划算法[J].电子学报,2012,40(05):971-976. [11]   王伟,杨国兵,方芳,陈田,刘军,张欢.通过面积扩张和散热硅通孔的3DIC热量的优化[J].电子测量与仪器学报,2014,28(07):748-754. [12]   刘军, 王秀云, 任福继. 使用辅助转接板和熔丝的2.5D集成电路测试策略. 计算机工程与应用, 2020, 56(6):8. [13]   刘军,王亭亭,任福继.面向可重构扫描网络的锁定隔离安全结构[J].计算机辅助设计与图形学学报,2021,33(03):356-362. [14]   刘军，缪伟伟，吴玺，任福继. 基于重编程单元数量约束的忆阻器阵列闭环重映射算法. 计算机辅助设计与图形学学报，2022.（已录用） [15]   J.Liu, Y.Han, X.Li. Extended Selective Encoding for Reducing Test Data and Test Power. IEICE Transactions on Information and Systems, 93(8), pp.2223-2232, 2010. [16]   刘 军，吴 玺，韩银和，李晓维.基于可重构MUXs网络的低功耗测试数据压缩方法.电子学报, 2011, 39(5):1190-1193. [17]   刘 军，韩银和，李晓维.动态更新参考切片的IP核测试数据压缩方法，计算机辅助设计与图形学学报，2010,22(11):.2013-2020,2010。 [18]   J.Liu, Y.Han, X. Li, Extended Selective Encoding for Reducing Test Data and Test Power, In Proceedings of IEEE Asian Test Symposium(ATS), pp.323-328, November,2009. [19]   J.Liu, Y.Han, X.Li, Scan Slices Compression Technique Using Dynamical Reference Slices, In Proceedings of IEEE Workshop on RTL and High Level Testing(WRTLT), pp.82-85, November, 2009. [20]   梁华国，刘 军，蒋翠云，欧阳一鸣，易茂祥 约束输入精简的多扫描链BIST方案， 计算机辅助设计与图形学学报，19(3)，pp.371-375，2007。 [21]   吴 玺，刘 军，刘正琼，内建自测试相移器设计算法的优化，电子技术应用，pp.31-33，2007年第6期 [22]   李 扬，梁华国，刘 军，胡志国，基于部分测试向量切分的LFSR重新播种方法，计算机辅助设计与图形学学报，19(3)，pp.361-365，2007。 [23]   陈田,易鑫,王伟,刘军,梁华国,任福继.一种低功耗双重测试数据压缩方案[J].电子学报,2017,45(06):1382-1388. [24]   S.Pei , G.Ye, H. Li, J.Liu, S.Jin. Enhanced LCCG: A novel test clock generation scheme for faster-than-at-speed delay testing. In Proceedings of IEEE Asia and South Pacific Design Automation Conference, 2015:514-519. [25]    S.Pei, H.Li, S.Jin, J.Liu, X.Li. An on-chip frequency programmable test clock generation and application method for small delay defect detection. Integration, the VLSI Journal, 2015, 49(03):87-97. 已授权的发明专利： [1]      刘军;吴玺;朱承强;王伟;陈田;任福继 一种相邻层冗余共享三维存储器的存储裸片选择方法。专利号：ZL 201610473305.3，授权日期：2019年4月5日 [2]      刘军;吴玺;王伟;陈田;钱庆庆  三维IP核测试外壳 扫描链优化方法。专利号：ZL 201410083824.X，授权日期：2016年5月11日 教育经历 [1]   2007.9-2011.7 Institute of Computing, Chinese Academy of Science 其他联系方式 通讯/办公地址： 翡翠科教楼A803